NF X10-530-1975 真空技术.质谱仪式渗漏探测仪的校准

作者:标准资料网 时间:2024-05-23 22:33:57  浏览:8614   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Vacuumtechnology-Massspectrometer-typeleak-detectorcalibration.
【原文标准名称】:真空技术.质谱仪式渗漏探测仪的校准
【标准号】:NFX10-530-1975
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1975-11-01
【实施或试行日期】:1975-11-07
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:真空工程;质谱仪;规范;校正;真空技术;检漏仪;定义
【英文主题词】:Calibration;Detectors(circuits);Leakdetectors;Massspectrometers;Vacuumengineering
【摘要】:
【中国标准分类号】:J78
【国际标准分类号】:23_160
【页数】:16P.;A4
【正文语种】:其他