ANSI/IEEE C62.35-2010 雪崩接合半导体电涌保护装置元件标准试验方法

作者:标准资料网时间:2024-05-13 23:59:54 浏览:8932 来源:标准资料网

【英文标准名称】:StandardTestMethodsforAvalancheJunctionSemiconductorSurge-ProtectiveDeviceComponents
【原文标准名称】:雪崩接合半导体电涌保护装置元件标准试验方法
【标准号】:ANSI/IEEEC62.35-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(US-ANSI)
【起草单位】:ANSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电气工程;半导体;规范;过电压保护;电压保护
【英文主题词】:Electricalengineering;Semiconductors;Specification;Surgeprotection;Voltageprotection
【摘要】:Thisstandardappliestotheavalanchebreakdowndiodesusedforsurgeprotectiononsystemswithvoltagesequaltoorlessthan1000Vrmsor1200Vdc.TheavalanchebreakdowndiodesurgesuppressorisasemiconductordiodewhichcanoperateineithertheforwardorreversedirectionofitsV-Icharacteristic.Thiscomponentisasinglepackage,whichmaybeassembledfromanycombinationofseriesand/orparalleldiodechips.
【中国标准分类号】:K46
【国际标准分类号】:29_120_50
【页数】:
【正文语种】:英语

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标准名称：	晶体盒总规范
英文名称：	Holders (Enclosures), crystal, general specification for
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 电子元件 >> 石英晶体、压电元件
ICS分类：	电子学 >> 电子显示器件
发布部门：	中华人民共和国电子工业部
发布日期：	1987-09-16
实施日期：	1988-06-01
首发日期：	1987-12-31
作废日期：	1900-01-01
主管部门：	信息产业部（电子）
归口单位：	全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
起草单位：	国营七零七厂
起草人：	邓梁鸿
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	1900-01-01
页数：	10页